產(chǎn)品中心
Product Center當前位置:首頁產(chǎn)品中心材料樣品檢測真空探針臺
該氣敏測試真空探針臺的承片臺X/Y/Z三個方向均可在真空環(huán)境下調節(jié),其中X方向調節(jié)范圍:0-30mm;y方向調節(jié)范圍:0-13mm;z方向調節(jié)范圍:0-13mm;用戶可根據(jù)需要自行調節(jié)。使用時將需檢測的器件固定在加熱臺上,再微
小型真空探針臺高溫熱臺KT-0904T-R主要用于為被測芯片提供一個高溫的變溫測量環(huán)境,以便測量分析溫度變化時芯片性能參數(shù)的變化。腔體內(nèi)被測芯片在真空環(huán)境中有效避免易受氧化半導體器件接觸空氣所帶來的測試結果誤差。
高溫熱臺小型真空探針臺KT-0904T-R在高溫真空環(huán)境下的芯片測試、LD/LED/PD測試、光纖光譜特性測試、材料/器件的IV/CV特性測試、霍爾測試、電磁輸運特性、高頻特性測試等
Mini真空探針臺KT-0904T是一款普通型無高溫低溫系統(tǒng)真空探針臺,尺寸300mmX260mm,輕便小喬,功能齊全。可應用于導體/微電子,電子,機電,物理,化學,材料,光電,納米,微機電/MEMS,生物芯片,航空航天等科學研究領域,以及IC設計/制造/測試/封裝、LED、LCD/OLED、LD/PD、PCB、FPC等生產(chǎn)制造領域。
高溫真空腔光學測試KT-Z4019MRL4T,300X300X170(mm) 氣浮隔振+阻尼隔振+橡膠減震底腳,-196℃至350℃微型高低溫探針臺,小巧輕便,功能齊全。